En la actualidad la pérdida de fruta postcosecha en países desarrollados tiene lugar en la fase posterior a la compra del producto en el anaquel. La razón que se ha atribuido a este fenómeno es la falta de información del consumidor para poder determinar la calidad, estado de maduración, durabilidad de la fruta al momento de la compra. Esta investigación fue realizada con el fin de desarrollar un sistema integrado de estimación de maduración de banano, capaz de utilizar métodos no destructivos. El proceso se subdividió en una fase previa de diseño y construcción, y una fase de comprobación del funcionamiento y efectividad del sistema. Las variables utilizadas para estimar el grado de maduración fueron; color, firmeza, pérdida de humedad de la pupa y concentración de azucares. La construcción del equipo SIEM generó un costo de 599 USD y requería alrededor de 72 horas para instalar y calibrar todos sus componentes. la efectividad de SIEM se comprobó a través de la correlación estadísticas entre los resultados obtenidos en el ensayo con una metodología no destructiva contra otros métodos de estimación del grado de madurez de banano con metodología destructivas que estaban presentes en la literatura, se encontró que el SIEM produjo resultados similares con un alto nivel de correlación. El comportamiento de cambio de color, firmeza, perdida de humedad de la pulpa, y concentración de azucares reportado en ambas metodologías fueron similares por lo cual se puede concluir que el equipo SIEM puede ser utilizado para estimar el grado de maduración de una fruta de banano y su calidad interna sin la necesidad de destruir la fruta en el proceso.

Currently, post-harvest fruit loss in developed countries occurs in the post-purchase phase of shelf-life. The reason attributed to this phenomenon is the lack of consumer information to determine the quality, state of maturity, and durability of the fruit at the time of purchase. This research was conducted in order to develop an integrated system for estimating banana ripening, capable of using non-destructive methods. The process was subdivided into a previous phase of design and construction, and a phase of verification of the operation and effectiveness of the system. The variables used to estimate the degree of ripeness were color, firmness, loss of humidity of the pupa and concentration of sugars. The construction of the SIEM equipment generated a cost of 599 USD and required about 72 hours to install and calibrate all its components. The effectiveness of SIEM was proven through the statistical correlation between the results obtained in the test with a non-destructive methodology against other methods of estimation of the degree of maturity of banana with destructive methodology that were present in the literature, it was found that SIEM produced similar results with a high level of correlation. The behavior of color change, firmness, loss of moisture from the pulp, and sugar concentration reported in both methodologies were similar, so it can be concluded that the SIEM equipment can be used to estimate the degree of maturity of a banana fruit and its internal quality without the need to destroy the fruit in the process.